Analog circuit specification testing by means of Walsh-Hadamard transform and multiple regression supported by evolutionary computations
PBN-AR
Instytucja
Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki (Politechnika Śląska)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
en
Czasopismo
Circuits Systems Signal Process. (25pkt w roku publikacji)
ISSN
0278-081X
EISSN
1531-5878
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2018
Numer zeszytu
7
Strony od-do
2736-2771
Numer tomu
37
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Autorzy
(liczba autorów: 2)
Słowa kluczowe
en
analog circuit
specification driven testing
genetic programming
multiple regression
pl
obwód analogowy
testowanie sterowane specyfikacją
programowanie genetyczne
regresja wielokrotna
Open access
Tryb otwartego dostępu
Otwarte czasopismo
Wersja tekstu w otwartym dostępie
Wersja opublikowana
Licencja otwartego dostępu
Creative Commons — Uznanie autorstwa
Czas opublikowania w otwartym dostępie
Razem z publikacją
Cechy publikacji
original-article
Inne
System-identifier
0000124318
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych