A low-noise measurement system for scanning thermal microscopy resistive nanoprobes based on a transformer ratio-arm bridge
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (Politechnika Wrocławska)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
eng
Czasopismo
Measurement Science & Technology (35pkt w roku publikacji)
ISSN
0957-0233
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2018
Numer zeszytu
nr 4
Strony od-do
1-7
Numer tomu
vol. 29
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Słowa kluczowe
pol
mikroskopia termiczna
izolowany mostek transformatorowy
mikroskop sił atomowych
izolacja galwaniczna
Inne
System-identifier
000212748
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych