Atomic layer deposition TiO2 coated porous silicon surface: Structural characterization and morphological features
PBN-AR
Instytucja
Centrum Nanobiomedyczne (Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
en
Czasopismo
THIN SOLID FILMS
ISSN
0040-6090
EISSN
Wydawca
ELSEVIER SCIENCE SA
DOI
URL
Rok publikacji
2015
Numer zeszytu
Strony od-do
303-308
Numer tomu
589
Link do pełnego tekstu
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Słowa kluczowe
angielski
Atomic layer deposition
Titanium dioxide
Porous silicon
Cechy publikacji
Original article
Original article presents the results of original research or experiment.
Oryginalny artykuł naukowy
Oryginalny artykuł naukowy przedstawia rezultaty oryginalnych badań naukowych lub eksperymentu.
Inne
System-identifier
PBN-R:701900