An Automated Method for Statistical Testing of FPGA−based Pseudo−Random Generators
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektroniki (Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
en
Czasopismo
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
ISSN
0033-2089
EISSN
2449-9528
Wydawca
Wydawnictwo Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT Sp. z o.o.
DOI
Rok publikacji
2013
Numer zeszytu
2
Strony od-do
58-63
Numer tomu
54
Link do pełnego tekstu
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Autorzy
(liczba autorów: 2)
Słowa kluczowe
en
seudorandom generator
NIST statistical test
chaos
FPGA
Streszczenia
Język
en
Treść
This paper presents design and development of the system for automated testing of pseudo-random binary sequences produced by chaotic generators implemented in programmable devices. This task requires a large amount of computing resources due to the complex form of statistical tests. The proposed solution is a flexible, platform-independent integrated test-bed and can be extended by new modules. It has been proved, that the described system significantly simplifies testing of pseudorandom generators implemented in FPGA devices. Experimental results of 6 different architectures of pseudo-random generators implemented on Zynq, Spartan 6, Virtex 5 and Virtex 6 FPGA devices from Xilix have been presented. The overall test time for NIST test battery is about 8 times shorter than in a conventional method based on a single-computer test-bed.
Język
pl
Treść
Artykuł prezentuje projekt i realizację zautomatyzowanego systemu do testów chaotycznych generatorów pseudolosowych sekwencji binarnych implementowanych w układach programowalnych. Ze względu na złożoną budowę testów statystycznych zadanie to wymaga dużej mocy obliczeniowej. Zaproponowane rozwiązanie jest elastyczne, niezależne od platformy sprzętowej i może być rozbudowywane o nowe moduły. Wykazano, że opisany system w znaczący sposób ułatwia testowanie generatorów ciągów pseudolosowych w układach FPGA. Podano wyniki eksperymentalne badań 6 różnych architektur generatorów pseudolosowych zaimplementowanych w układach rodzin Zynq, Spartan 6, Virtex 5 i Virtex 6 firmy Xilinx. Łączny czas wykonania zestawu testów NIST przy użyciu proponowanej metody jest krótszy 8-krotnie od czasu wykonania testu konwencjonalną metodą z pojedynczym komputerem.
Cechy publikacji
Automatyka i robotyka
Elektronika
Control engineering and robotics
Electronics
discipline:Elektronika
discipline:Electronics
Original article
Original article presents the results of original research or experiment.
Oryginalny artykuł naukowy
Oryginalny artykuł naukowy przedstawia rezultaty oryginalnych badań naukowych lub eksperymentu.
Inne
System-identifier
PBN-R:804914