Structural investigation of MF, RF and DC sputtered Mo thin films for backside photovoltaic electrode
PBN-AR
Instytucja
Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji (Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie)
Książka
Tytuł książki
Electron technology conference 2016. 11–14 September 2016, Wisła, Poland
Data publikacji
2016
ISBN
9781510608436
Wydawca
Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers
Publikacja
Główny język publikacji
EN
Tytuł rozdziału
Structural investigation of MF, RF and DC sputtered Mo thin films for backside photovoltaic electrode
Rok publikacji
2016
Strony (od-do)
1017519-1--1017519-7
Numer rozdziału
Link do pełnego tekstu
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
0.5
Hasło encyklopedyczne
Autorzy
Słowa kluczowe
EN
Mo back contact
electrode for CIGS solar cell
medium frequency sputtering
Konferencja
Indeksowana w Scopus
tak
Indeksowana w Web of Science Core Collection
tak
Liczba cytowań z Web of Science Core Collection
Nazwa konferencji (skrócona)
ELTE 2016
Nazwa konferencji
Electron technology conference 2016
Początek konferencji
2016-09-11
Koniec konferencji
2016-09-14
Lokalizacja konferencji
Wisła
Kraj konferencji
PL
Lista innych baz czasopism i abstraktów w których była indeksowana
Streszczenia
Język
EN
Treść
Recently photovoltaics attracts much attention of research and industry. The multidirectional studies are carried out in order to improve solar cells performance, the innovative materials are still searched and existing materials and technology are optimized. In the multilayer structure of CIGS solar cells molybdenum (Mo) layer is used as a back contact. Mo layers meet all requirements for back side electrode: low resistivity, good adhesion to the substrate, high optical reflection in the visible range, columnar structure for Na ions diffusion, formation of an ohmic contact with the ptype CIGS absorber layer, and high stability during the corrosive selenization process. The high adhesion to the substrate and low resistivity in single Mo layer is difficult to be achieved because both properties depend on the deposition parameters, particularly on working gas pressure. Therefore Mo bilayers are applied as a back contact for CIGS solar cells. In this work the Mo layers were deposited by medium frequency sputtering at different process parameters. The effect of substrate temperature within the range of 50°C-200°C and working gas pressure from 0.7 mTorr to 7 mTorr on crystalline structure of Mo layers was studied. © (2016) COPYRIGHT Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE). Downloading of the abstract is permitted for personal use only.
Cechy publikacji
chapter-in-a-book
peer-reviewed
Inne
System-identifier
idp:103483
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych