Elastic scattering phenomena in thin polymer layers
PBN-AR
Instytucja
Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji (Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
EN
Czasopismo
Materials Today: proceedings
ISSN
2214-7853
EISSN
Wydawca
Elsevier Science
DOI
Rok publikacji
2016
Numer zeszytu
Strony od-do
S57--S64
Numer tomu
3
Link do pełnego tekstu
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
0.57
Autorzy
(liczba autorów: 7)
Pozostali autorzy
+ 6
Słowa kluczowe
EN
spectroscopic ellipsometry
transmittance
elastic light scattering
diffusive reflectance
Konferencja
Indeksowana w Scopus
tak
Indeksowana w Web of Science Core Collection
tak
Liczba cytowań z Web of Science Core Collection
Nazwa konferencji (skrócona)
ICFMD
Nazwa konferencji
5th International Conference on Functional Materials and Devices
Początek konferencji
2015-08-04
Koniec konferencji
2015-08-06
Lokalizacja konferencji
Johar Bahru
Kraj konferencji
MY
Lista innych baz czasopism i abstraktów w których była indeksowana
Open access
Tryb otwartego dostępu
Otwarte czasopismo
Wersja tekstu w otwartym dostępie
Wersja opublikowana
Licencja otwartego dostępu
Creative Commons — Uznanie autorstwa-Niekomercyjne-Bez utworów zależnych
Czas opublikowania w otwartym dostępie
Razem z publikacją
Streszczenia
Język
EN
Treść
Thin polymer films are currently under intensive investigation owing to their promising optical and electrical properties. The roughness and refractive index variation in a film, and also presence of unwanted molecular inclusions in bulk created during film formation may lead to incoherent light scattering. Therefore the analysis of thin film optical spectra becomes more complicated. The aim of this work is presentation of light scattering phenomena occurring in a polymer layer. The phenomena can be described by the Fresnel model for specular reflectance and also Rayleigh, Debye and scalar theories of light scattering for non-directional reflection from a diffusive film. Furthermore, the optical methods based on combined spectro-goniometric measurements have been presented. These investigations allow determining many important parameters such as optical constants, films thickness and their surface roughness and also optical scattering coefficients of diffusive layers.
Cechy publikacji
original article
peer-reviewed
Inne
System-identifier
idp:096573
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych