Design and testing of integrated circuit of pixel architecture for fast X-ray imaging applications
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej (Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie)
Książka
Tytuł książki
DDECS. proceedings of the 2014 IEEE 17th international symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits \& Systems : April 23–25, 2014, Warsaw, Poland
Data publikacji
2014
ISBN
978-1-4799-4560-3
Wydawca
IEEE
Publikacja
Główny język publikacji
EN
Tytuł rozdziału
Design and testing of integrated circuit of pixel architecture for fast X-ray imaging applications
Rok publikacji
2014
Strony (od-do)
11--11
Numer rozdziału
Link do pełnego tekstu
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
0,07
Hasło encyklopedyczne
Konferencja
Indeksowana w Scopus
nie
Indeksowana w Web of Science Core Collection
tak
Liczba cytowań z Web of Science Core Collection
Nazwa konferencji (skrócona)
DDECS
Nazwa konferencji
2014 IEEE 17th international symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems
Początek konferencji
2014-04-23
Koniec konferencji
2014-04-25
Lokalizacja konferencji
Warszawa
Kraj konferencji
PL
Lista innych baz czasopism i abstraktów w których była indeksowana
Cechy publikacji
chapter-in-a-book
peer-reviewed
Inne
System-identifier
idp:081309