Dual stage time-over-threshold processing chain for silicon detectors with large capacitance
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej (Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie)
Książka
Tytuł książki
2013 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny]. Nuclear Science Symposium \& Medical Imaging Conference : October 27 – November 2, Seoul, Korea
Data publikacji
2013
ISBN
978-1-4799-3423-2
Wydawca
IEEE
Publikacja
Główny język publikacji
EN
Tytuł rozdziału
Dual stage time-over-threshold processing chain for silicon detectors with large capacitance
Rok publikacji
2013
Strony (od-do)
1--4
Numer rozdziału
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
0.28
Hasło encyklopedyczne
Konferencja
Indeksowana w Scopus
tak
Indeksowana w Web of Science Core Collection
tak
Liczba cytowań z Web of Science Core Collection
Nazwa konferencji (skrócona)
NSS/MIC
Nazwa konferencji
60th IEEE Nuclear Science Symposium / Medical Imaging Conference / 20th International Workshop on Room-Temperature Semiconductor X-ray and Gamma-ray Detectors
Początek konferencji
2013-10-27
Koniec konferencji
2013-11-02
Lokalizacja konferencji
Seoul
Kraj konferencji
KR
Lista innych baz czasopism i abstraktów w których była indeksowana
INSPEC
Streszczenia
Język
EN
Treść
This paper presents the architecture, simulation and measurement results of a low power dual stage charge sensitive amplifier providing a time-over-threshold analog to digital conversion with linear transfer characteristic dedicated for readout of long silicon strip detectors. The key features of the presented solution are: very low power consumption (2 mW), linear transfer characteristic and low charge losses at high detector capacitance. This work was motivated by the requirements of a new Silicon Tracking System at the Compressed Baryonic Matter experiment at FAIR centre. The issues investigated using other prototype ASICs implementing a constant-current discharge feedback and working with high detector capacitances (tens of pF) directed us to develop the presented idea and to evaluate it with a prototype ASIC. Up to our knowledge, due to the difficult operating conditions this solution fills the gap within the existing fabricated circuits.
Cechy publikacji
chapter-in-a-book
peer-reviewed
Inne
System-identifier
idp:081321
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych