Measurements of matching and noise performance of a prototype readout chip in 40 nm CMOS process for hybrid pixel detectors
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej (Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie)
Źródłowe zdarzenia ewaluacyjne
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
EN
Czasopismo
IEEE Transactions on Nuclear Science
ISSN
0018-9499
EISSN
1558-1578
Wydawca
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Rok publikacji
2015
Numer zeszytu
1
Strony od-do
359--367
Numer tomu
62
Link do pełnego tekstu
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
0.6
Słowa kluczowe
EN
noise
matching
X-ray detectors
analog circuits
Cechy publikacji
original article
peer-reviewed
Inne
System-identifier
idp:087840
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych